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一系列X55X高溫度普遍ZIF （零插入力） DIP測試插座

Series X55X High-Temperature Universal Zero-Insertion-Force (ZIF) DIP Test Socket特徵

  • Aries’通用測試插座接受裝置的0.300至0.600 [ 7.62至15.24 ]中心.
  • 所有引腳插座進入的PCB無論是0.300或0.600 [ 7.62至15.24 ]中心。
  • 接觸通常是封閉，以消除依賴於塑料，以維持聯繫。
  • 插座處理可配置與關閉的接觸（上）時，在向上或向下的立場，並且可以安裝在任何權利或左側。
  • 插座，可焊接到PCBs 。插座適合Aries' '測試插座插孔上數據表 10003.

規格

  • 插座機構：自然經UL 94 V - 0級玻璃填充聚醚醚酮 (PEEK)
  • 處理：不銹鋼
  • 聯繫人：鈹鎳360 ， 1/2-hard
  • 觸點電鍍： 50 μ [ 1.27 μ ]鎳硼
  • 聯繫額定電流： 1 amp
  • 操作溫度：最低-67 °搜索[ -55 ℃ ，最高482華氏度[ 250 ° C時]
  • 固位力（當非公開） ： 55g/pin的基礎上0.020 [ 0.51 ]直徑測試鉛
  • 絕緣電阻： 1000 MOhms 最低
  • Dielectric withstanding安全電壓： 1000VAC
  • 生命週期： 25000至50000週期
  • 接受線索： 0.015-0.045 [ 0.38-1.14 ]寬， 0.110-0.280 [ 2.79-7.11 ]長
  • 插座適合Aries ' 6556系列測試插座插孔. 諮詢 數據表 10003

越來越多的考慮因素

  • 看到下面的插座足跡
  • 不離開插座上的“聯繫打開”或“小康的立場” ，而根據溫度在燒傷-在焦爐。

 

公告   ORDERING INFORMATION

RoHS-compliant所有尺寸在inces [毫米]

“A ” （ ＃針，每行x 0.100 [ 2.54 ] ） + 0.590 [ 14.99 ]
有“ B ” （ ＃針，每行-1 ） × 0.100 [ 2.54 ]
在“ C ” （ ＃針，每行x 0.100 [ 2.54 ] ） + 0.415 [ 10.54 ]

所有公差± 0.005 [ ± 0.13 ] ，除非另有指明，

列印本文件可能會過時，應視為失控

不離開插座上的“聯繫打開”或“小康的立場” ，而根據溫度在燒傷-在焦爐。

  

 

 

Reference-Only Drawing for Series X55X High-Temperature Universal Zero-Insertion-Force (ZIF) DIP Test Socket

 

下載 數據表10002, 修訂 H