采用Center Probe™专利技术,机械加工而成的高频测试插座,适合BGA, CSP, 和 MLF等封装的器件 |

CUSTOMIZATION: IN ADDITION TO THE STANDARD PRODUCTS SHOWN ON THIS PAGE, ARIES SPECIALIZES IN CUSTOM DESIGN AND PRODUCTION. SPECIAL MATERIALS, PLATINGS, SIZES, AND CONFIGURATIONS CAN BE FURNISHED, DEPENDING ON QUANTITY. NOTE: ARIES RESERVES THE RIGHT TO CHANGE PRODUCT SPECIFICATIONS WITHOUT NOTICE.特点
- 无需焊锡通过压力固定到测试板上,器件的焊锡球或者焊盘
- 测试期间信号通道仅为0.077 [1.96]
- 插座的电感和电容都非常低
- 小巧的外形使测试板可以更加被充分的利用
- 芯片导向器使器件可是实现更精确的接触
- 受载弹簧接触可以让插座拥有更高的寿命
- 4点公接头使得接插时更为精确
- 插座的定位销使插座可以更精确的连接到PCB上
- 底部接触使得PCB板中心位置上可以有通孔
- 适用于pitch大于0.3mm的器件
规格
- 插座材料:Torlon PAI
- 所有硬件部分:不锈钢
- 受载弹簧:镀金的铍铜
- 接触电阻:<40 mΩ
- 适合焊锡球的尺寸:0.15mm-0.93mm
- 预测寿命:500,000次
- 接触力:
: 15g每根针上,当pitch为0.30-0.35mm
: 16g每根针上,当pitch为0.40-0.45mm
: 25g每根针上,当pitch为0.50-0.75mm
: 25g每根针上,当pitch大于0.80mm时 - 探针自感:0.51nH (大探针); 0.59nH (小探针)
- 插入损耗:当信号频率最高到10.1GHz时,损耗为1dB,(larger probe @ 0.80mm pitch); 当信号频率最高到18.7GHz时,损耗为1dB (smaller probe @ 0.50mm pitch)
安装注意事项
- 建议定位孔尺寸:0.063 [1.6mm],2个
- 建议安装孔尺寸:0.120 [3.05mm],4个;配合四颗4-40螺丝
- 测试PCB DIA. "G": 0.025 [0.64] (large probe 0.80mm pitch and
larger)
: 0.015 [0.38] (small probe 0.50-0.75mm pitch)
: 0.012 [0.31] (small probe 0.40-0.45mm pitch)
: 0.009 [0.23] (small probe 0.30-0.35mm pitch) - 弹簧探针电镀:采用镍底镀金的办法,按照MIL-G-45204标准至少镀金30µ,按照SAE AMS-QQ-N-290B标准至少镀镍30µ。Pad在高度上必须和PCB的表面相同。Aries在收到您的订单之后会为您提供专门的定制插座图纸,供您参考
TEST REPORTS
| 请注意 | ORDERING INFORMATION | |||||||||||||||||||||||||||||||
所有尺寸用英寸[毫米]。其它尺寸,外形请咨询工厂。所有公差在±0.005 [±0.13]内,除非另有详细说明。器件图纸请送到Aries以便取得报价和设计图纸。以上文档信息仅供参考,实际产品以报价或图纸中的说明为准。 |
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“-24HL” HINGED LID VERSION SHOWN |
“-24DL” DOUBLE-LATCHED REMOVABLE LID VERSION SHOWN |
“-24HL” HINGED LID VERSION SECTION |
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Sheet 24010, Rev AA |







